Placa Dock Test JCID-CD01
Disponível desde 01 de Novembro de 2024
Última listagem em 22 de Dezembro de 2024
Compartilhar
código: #15333
Por:
* Os preços e a disponibilidade estão
sujeitos a alterações sem aviso prévio.
Informar preço incorreto ou indisponibilidade
Tecnología de medición sin desmontaje: cuando la prueba es NG, se puede conectar automáticamente al dibujo de Jingcheng para comparar la resistencia y localizar los componentes defectuosos.
Interfaz de operación de la aplicación de alta gama: resistencia integrada, voltaje, protocolo y análisis de carga rápida, operación clara, experiencia de usuario mejorada
Sistema de monitoreo de voltaje en tiempo real: Monitoreo en tiempo real del estado del voltaje de funcionamiento de D+D/CC1/CC2
Cambio de pantalla de giroscopio innovador: uso de tecnología de giroscopio innovadora para lograr un cambio de pantalla inteligente
Análisis profundo de protocolos: la tecnología avanzada de detección de protocolos de carga rápida incorporada reconoce los protocolos de carga rápida de teléfonos móviles de manera inteligente, lo que garantiza una carga segura y eficiente.
Sistema inteligente de diagnóstico de fallas: diagnostica fallas de carga de manera inteligente y localiza componentes defectuosos con precisión, mejora la eficiencia del mantenimiento
Experiencia de usuario personalizada: personalice el estilo de la imagen principal, el idioma, el sonido, etc., disfrutando de una experiencia de usuario personalizada de alto nivel.